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학술저널
저자정보
박일후 (고려대학교 공과대학 전기전자공학과) 나인엽 (고려대학교 마이크로/나노시스템) 주현필 (고려대학교 공과대학 전기전자공학과) 김규태 (고려대학교 공과대학 전기전자공학과)
저널정보
한국반도체디스플레이기술학회 반도체디스플레이기술학회지 반도체디스플레이기술학회지 제17권 제1호
발행연도
2018.1
수록면
50 - 53 (4page)

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Cyclic measurement system using relay circuit for organic light emitting diode (OLED) was demonstrated. The OLED characterization such as current-voltage, impedance, and capacitance-voltage is performed in sequence, repetitively and automatically under full control of the personnel computer (PC) without changing the connection of cables. Owing to in situ degradation by cyclic measurement, the time dependence of the data can give good information on the reliability factor of the OLED devices. Therefore, both performance and reliability of the OLEDs can be evaluated, with no manual operation during the entire process.

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