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자료유형
학술대회자료
저자정보
Han, Jae-Hee (Center for Nanotubes and Nanostructured Composites, Department of Materials Engineering, Sungkyunkwan University) Kim, Do-Yoon (Center for Nanotubes and Nanostructured Composites, Department of Materials Engineering, Sungkyunkwan University) Berdinsky, Alexander S. (Center for Nanotubes and Nanostructured Composites, Department of Materials Engineering, Sungkyunkwan University) Yoo, Ji-Beom (Center for Nanotubes and Nanostructured Composites, Department of Materials Engineering, Sungkyunkwan University) Park, Chong-Yun (Center for Nanotubes and Nanostructured Composites, Department of Materials Engineering, Sungkyunkwan University) Choi, Jin-Ju (School of Electronics Engineering, Gwangwoon University) Jung, Tae-Won (Materials and Devices Lab., Samsung Advanced Institute of Technology) Han, In-Taek (Materials and Devices Lab., Samsung Advanced Institute of Technology) Kim, Jong-Min (Materials and Devices Lab., Samsung Advanced Institute of Technology)
저널정보
한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2004년도 Asia Display / IMID 04
발행연도
2004.1
수록면
459 - 461 (3page)

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이 논문의 연구 히스토리 (3)

2004

Emission Properties of Selectively Grown Carbon Nanotubes
Han ,  Jae-Hee ,  Kim 외 18명 한국정보디스플레이학회 International Meeting 2004.01 학술대회자료

2003

Electron Emission Properties of Selectively Grown Carbon Nanotubes for Electron Emitter in Microwave Power Amplifier
Han ,  Jae-Hee ,  Lee 외 16명 한국정보디스플레이학회 International Meeting 2003.01 학술대회자료

2002

Electron Emission Property of Carbon Nanotubes Grown Using Different Source Gases
Han ,  Jae-Hee ,  Lee 외 14명 한국정보디스플레이학회 International Meeting 2002.01 학술대회자료

초록· 키워드

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Field-emission (FE) characteristics of different photolithographically patterned carbon nanotubes (CNTs) films have been studied. The total FE current is the highest value [2.8 mA (${\sim}$106 mA/$cm^2$) at 7.5 V/${\mu}m$] in patterned CNTs film with the window size of 60 ${\mu}m$ ${\sim}$ 60 ${\mu}m$ and the spacing of 120 ${\mu}m$. It was found that the total widow area is more important factor for the total FE current than the total window length. The contact resistance between CNTs and substrate would be a crucial factor for detachment of CNTs from the substrate.

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