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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 저널정보
- 한국정보디스플레이학회 한국정보디스플레이학회 International Meeting 한국정보디스플레이학회 2002년도 International Meeting on Information Display
- 발행연도
- 2002.1
- 수록면
- 221 - 223 (3page)
이용수
이 논문의 연구 히스토리 (2)
2002
Measurement of Ion-induced Secondary Electron Emission Yield of MgO Films by Pulsed Ion Beam Method
Lee
,
Sang-Kook
,
Kim
외 5명
Journal of information display
2002.01
학술저널
Slow Noble Ion - Induced Secondary Electron Emission Characteristics of MgO Layer.
Lee
,
Sang-Kook
,
Kim
외 5명
한국정보디스플레이학회 International Meeting
2002.01
학술대회자료
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We have measured the secondary electron emission yield ${\gamma}_i$ from MgO films deposited on $SiO_2/Si$ for low energy noble ions. A pulsed ion beam technique was employed in order to suppress the surface charging effect during the measurement. From the measurement of the ion - induced secondary electron emission coefficients ${\gamma}_i$ for 5 noble ions with energies ranging from 50 eV to 225 eV, it was shown that, with increasing the kinetic energies of the incident ions, the ${\gamma}_i$ increased
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