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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
문지훈 (한국표준과학연구원) 강상우 (한국표준과학연구원)
저널정보
한국진공학회 진공이야기 진공이야기 제7권 제1호
발행연도
2020.7
수록면
13 - 17 (5page)

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In the past several decades, production yield and quality of the semiconductor and display process has successfully managed by introducing the advanced process control (APC) system. However, the recent technology evolution which represented as large-scale and high-density integration requires the much complicate and precise analysis of the processes for the breakthrough increasing of production yield. In this reason, the demand of developing novel real-time process monitoring sensor is increasing. We developed novel optical sensor for the real-time monitoring of contamination particles in vacuum environment. The developed sensor showed higher measurement efficiency and the weaknesses of previously developed sensors were overcame by introducing the novel measurement methods.

목차

서론
진공공정에서의 오염입자 발생
광학식 모니터링 센서
결론
References

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