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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
저널정보
한국진공학회(ASCT) Applied Science and Convergence Technology 한국진공학회지 제18권 제6호
발행연도
2009.11
수록면
447 - 452 (6page)

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이 논문의 연구 히스토리 (3)

2010

동시계수 도플러 방법과 양전자 수명 분광법에 의한 BaSrFBr:Eu의 결함 연구
김주흥 ,  이종용 ,  배석환 한국진공학회 학술발표회초록집 2010.02 학술대회자료

2009

동시계수 양전자 소멸 측정에 의한 양성자 조사된 BaSrFBr:Eu 박막 특성
김주흥 ,  Y. Nagai ,  이종용 Applied Science and Convergence Technology 2009.11 학술저널
양전자 수명 분광법에 의한 형광물질 aSrFBr:Eu의 결함 연구
김주흥 ,  이종용 ,  배석환 외 1명 한국진공학회 학술발표회초록집 2009.08 학술대회자료

초록· 키워드

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동시 계수 도플러 넓어짐 양전자 소멸 분광법과 양전자 소멸 수명 측정법으로 BaSrFBr:Eu의 박막 시료에 0, 3, 5, 7.5 MeV 에너지의 양성자 조사에 의한 결함을 측정하여 박막구조 특성에 대하여 조사하였다. 양전자와 전자의 쌍소멸로 발생하는 511 keV 감마선 스펙트럼의 수리적 해석 방법인 S-변수를 사용하여, 박막 구조 변화를 측정하였다. 본 연구에서 측정된 S-변수가 박막에 조사된 양성자의 빔 에너지에 따라 변하지 않고 거의 일정한 값을 보였다. 따라서 양성자 조사에너지의 세기 변화에 따라 결함이 증가하지 않았으며, 그 이유는 양성자 조사 에너지에 따른 Bragg 피크 때문에 박막 시료의 특정 깊이에 결함을 형성하여 박막전체의 결함으로 잘 나타나지 않기 때문으로 판단된다. 향후, 박막의 두께에 따른 결함의 분포를 측정하기 위해서는 양전자 선원 Na의 사용 대신 양전자 빔을 이용하여야 한다.
#양성자 빔 #S-변수 #동시계수 양전자 소멸 #BaSrFBr:Eu #S-parameter #CDBPAS #Proton beam

목차

Ⅰ. 서론
Ⅱ. 실험
Ⅲ. 결과 및 고찰
Ⅳ. 결론
감사의 글
참고문헌

참고문헌 (17)

참고문헌 신청
1. [학술지(정기간행물)] - Miyahara / 1985 / / Science and Technology of Japan 26 : 28 ~ google schola 2. [학술지(정기간행물)] - Y. Amemiya / 1988 / / Nature 336 : 89 ~ google schola 3. [학술지(정기간행물)] - M. Sonoda / 1983 / / Radiology 148 : 833 ~ google schola 4. [학술지(정기간행물)] - 김수인 / 2007 / Cu 금속 배선에 적용되는 질소와 탄소를 첨가한 W-C-N 확산방지막의 질소불순물 거동 연구 / 한국진공학회지 16 (5) : 348 ~ 352 dbpia 5. [학술지(정기간행물)] - 이종용 / 2006 / Gd2O2S：Tb의 동시 계수 도플러 양전자 소멸법에 의한 결함 특성 / 한국재료학회지 16 (7) : 455 ~ 459 google schola

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