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한국진공학회(ASCT) Applied Science and Convergence Technology Journal of Korean Vacuum Society Vol.12 No.S1
발행연도
2003.10
수록면
7 - 9 (3page)

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Solid-state reactions in Ni/Si multilayered films (MLF) with an overall stoichiometry of Ni₂Si, NiSi and NiSi₂, induced by ion-beam mixing (IBM) and thermal annealing, were studied by using spectroscopic ellipsometry and magnetooptical spectroscopy as well as x-ray diffraction (XRD). The mixing was performed with Ar^+ ions of an energy of 80 keV and a dose of 1.5×10^(16) Ar^+/㎠. It was shown that the IBM induces structural changes in the Ni/Si MLF, which cannot ... 전체 초록 보기

목차

Abstract

1. Introduction

2. Experiment

3. Results and Discussion

4. Conclusions

Acknowledgments

References

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2019-420-001268196