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저자정보
저널정보
한국현미경학회 한국현미경학회지 한국현미경학회지 제45권 제1호
발행연도
2015.1
수록면
1 - 8 (8page)

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We have developed a new HD-2700 (Hitachi High-Technologies Corp., Japan) scanning transmission electron microscope (STEM) that includes an automatic aberration correction function, and a large-solid-angle energy-dispersive X-ray spectroscopy detector that enables high-resolution and sensitive analysis. For observation with atomic resolution, using spherical-aberration-corrected STEM, in order that satisfactory performance of the device can be achieved readily, and within a short time, irrespective of the operator’s skill level, a spherical-aberration-correction device with an automatic aberration-correction function was developed. This automatic aberration-correction function carries out the entire correction-related process (aberration measurement, selection and correction) automatically, with automatic selection of the aberrations that require correction, and automatic measurement of the appropriate corrections.
#Aberration correction #Scanning transmission electron microscope #X-ray analysis

목차

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Beck V D / 1979 / A hexapole spherical aberration corrector / Optik 53 : 241 ~ 255 | 2. [학술지(정기간행물)] - Crewe A V / 1982 / A system for the correction of axial aperture aberrations in electron lenses / Optik 60 : 271 ~ 281 | 3. [단행본] - Fiori C E / 1986 / Principles of Analytical Electron Microscopy / Springer Press : 413 ~ 443 | 4. [학술지(정기간행물)] - Haider M / 1998 / Towards 0.1 nm resolution with the first spherically corrected transmission electron microscope / J. Electron Microsc 47 : 395 ~ 405 | 5. [학술지(정기간행물)] - Hashimoto T / 2014 / Development of two steradian EDX system for the HD-2700 FE-STEM equipped with dual X-Max N 100 TLE large area windowless SDDs / Microsc. Microanal 20 : 604 ~ 605 | 6. [단행본] - Inada H / 2009 / Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 159 / Elsevier Press : 123 ~ 186 | 7. [학술지(정기간행물)] - Inada H / 2011 / Atomic resolution secondary electron imaging in aberration corrected STEM / Microsc. Anal : S5 ~ S8 | 8. [학술지(정기간행물)] - Inada H / 2011 / Atomic imaging using secondary electrons in a scanning transmission electron microscope: experimental observations and possible mechanisms / Ultramicroscopy 111 : 865 ~ 876 | 9. [학술지(정기간행물)] - Inada H / 2009 / Performance and image analysis of the aberration-corrected Hitachi HD-2700C STEM / J. Electron Microsc 58 : 111 ~ 122 | 10. [단행본] - Inada H / 2014 / Scanning Transmission Electron Microscopy of Nanomaterials / Imperial College Press : 307 ~ 344 | 11. [학술지(정기간행물)] - Isakozawa S / 2008 / The development and characteristics of a high-speed EELS mapping system for a dedicated STEM / J. Electron Microsc 57 : 41 ~ 45 | 12. [학술지(정기간행물)] - Isakozawa S / 2010 / The development of a new windowless XEDS detector / J. Electron Microsc 59 : 469 ~ 472 | 13. [학술지(정기간행물)] - Kaji K / 2001 / Development of a real-time jump-ratio imaging system equipped with a STEM / J. Electron Microsc 50 : 15 ~ 21 | 14. [학술지(정기간행물)] - Rose H / 1981 / Correction of aperture aberrations in magnetic systems with threefold symmetry / Nucl. Instrum. Methods 187 : 187 ~ 199 | 15. [학술지(정기간행물)] - Rose H / 1990 / Outline of a spherically corrected semiaplanatic mediumvoltage transmission electron-microscope / Optik 85 : 19 ~ 24 | 16. [학술지(정기간행물)] - Scherzer O / 1947 / Spharische und chromatische korrektur von elektronenlinsen / Optik 2 : 114 ~ 132 | 17. [학술지(정기간행물)] - Tamura K / 2013 / The development of a large-area windowless energy dispersive X-ray detector for STEM-EDX analysis / Microsc. Microanal 19 : 1192 ~ 1193 | 18. [학술지(정기간행물)] - Zaluzec N J / 2014 / Analytical formulae for calculation of X-ray detector solid angles in the scanning and scanning/transmission analytical electron microscope / Microsc. Microanal 20 : 1318 ~ 1326 | 19. [학술지(정기간행물)] - Zhu Y / 2009 / Imaging single atoms using secondary electrons with an aberration-corrected electron microscope / Nat. Mater 8 : 808 ~ 812 google schola

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