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이 논문에서 한 결정체의 전위 결함에 형태를 결정짓는 인자들 (Burgers-벡터, Slip plane, 전위선 벡터)을, LACBED 방법과 전통적인 회절 빔 상 관찰에 의해, 어떻게 얻을 수 있는가에 대해 세세히 논의하였다. 이 방법은 기본적으로 Cherns과 Prestons의 규칙과 동역학적 회절 이론에 입각한 공식에 의거한 LACBED 패턴 시뮬레이션이 따른다. 이 시뮬레이션 계산에서 필요에 따라 설정된 여러 근사들에 관해서도 역시 세세히 논의 하였다. 본 실험에 사용된 시료는 적적한 밀도로 분포된 전위 결함들을 많이 갖고 있는 순순 알루미늄이며, LACBED 실험에 적합한 것이다.
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/ / Theory of Dislocations. McGraw-Hill
/ 187-1932003. / A Simple Method to Determination theRotation Angle Between an Image and its DiffractionPattern with LACBED Patterns. K. J. Electro. Micros. 33 (3) : 187 ~ 1
/ 1977. / Electron Microscopy of Thin Crystals. Krierger Publ. : 640 ~
/ 1984. / Introduction to Dislocations. 3rd ed.
/ 1985. / Asymmetry in Bright Field Images of StackingFaults. Phys. Stat. Sol. : 231 ~ 240
/ 187-1932003. / A Simple Method to Determination theRotation Angle Between an Image and its DiffractionPattern with LACBED Patterns. K. J. Electro. Micros. 33 (3) : 187 ~ 1
/ 1977. / Electron Microscopy of Thin Crystals. Krierger Publ. : 640 ~
/ 1984. / Introduction to Dislocations. 3rd ed.
/ 1985. / Asymmetry in Bright Field Images of StackingFaults. Phys. Stat. Sol. : 231 ~ 240
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