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한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제23권 제3호
발행연도
2010.1
수록면
216 - 221 (6page)

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Employing statistical design of experiments, the difference in doping behaviors of rare-earth ions and their effects on the dielectric property and microstructure of BaTiO3-MgO-MnO2-(Ba0.4Ca0.6) SiO3-Re2O3 (Re = Y2O3, Er2O3) system were investigated. Through the statistical analysis we have found that the amount of Re2O3 are significantly affecting on the dielectric properties. The Re2O3 improved the dielectric constant, dielectric loss and R*C constant, so the appropriate contents of Y2O3 and Er2O3 were 0.8 ~ 1.2 mol% and 0.8 ~ 1.3 mol%, respectively. The MLCC(mutilayer chip capacitor) with 2.0 × 1.2 × 1.2 mm size and 475 nF was also suited for X7R with the above composition. It showed that the dielectric constant and RC constant were 2,839 and 3,675 ΩF, respectively in the sintering condition at 1250℃ in Po2 10-7 Mpa.

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