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한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제17권 제8호
발행연도
2004.1
수록면
840 - 845 (6page)

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The microstructure and microwave dielectric properties of (1-x)Mg4Ta2O9-xTiO2(x=0~0.9) ceramics were investigated. The specimens were prepared by the conventional mixed oxide method with sintering temperature of 1400 ℃ ~ 1500 ℃. To improve the quality factor and the temperature coefficient of resonant frequency, TiO2(εr = 100, Q×fr = 40,000 GHz, τf = +450 ppm/℃) was added in Mg4Ta2O9 ceramics. The dielectric and structural properties were investigated. According to the XRD patterns, (1-x)Mg4Ta2O9-xTiO2(x=0~0.9) ceramics had the Mg4Ta2O9 phase(hexagonal) and MgTi2O5 phase(orthorhombic). The dielectric constant(εr), quality factor(Q×fr) and temperature coeeficient of resonant frequency(τf) of the (1-x)Mg4Ta2O9-xTiO2(x=0~0.9) ceramics were 8.12∼18.59, 18,750∼186,410㎓ and -36.02∼+3.46 ppm/℃, respectively.

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