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한국전기전자재료학회 전기전자재료학회논문지 전기전자재료학회논문지 제16권 제8호
발행연도
2003.1
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To improvement of thermal stability of Teflon FEP which is the most widely used materials for electret application, Teflon AF film of 1 ㎛ thickness were spin coated on FEP film and the charge storage properties were investigated. The surface potential depend on aging temperature, Thermal Stimulated Current(TSC), Atomic Force Microscopy(AFM), and Fourier Transform-Infrared Spectroscope(FT-IR) measurements were carried out. It is shown that the AF/FEP dual film have more higher electrical property and thermal stability than that FEP film have caused by charge stored at interface of AF and FEP.
#Electret #Double layer #Thermal Stability #TSC #FT-IR

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