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저자정보
Saeed Peyghami (Aalborg University) Ahmed Abdelhakim (ABB Corporate Research Center) Pooya Davari (Aalborg University) Frede Blaabjerg (Aalborg University)
저널정보
전력전자학회 ICPE(ISPE)논문집 ICPE 2019-ECCE Asia
발행연도
2019.5
수록면
3,077 - 3,083 (7page)

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This paper investigates the reliability of two types of single-phase Photo-Voltaic (PV) inverters, which are a quasi-Z-Source Inverter (qZSI) and a conventional twostage boost-based inverter. The converters reliability is estimated by employing a mission-profile based reliability assessment approach modeling the wear-out failure of fragile components, i.e., capacitors and semiconductor devices. The obtained results reveal that the conventional two-stage inverter has better reliability compared to the qZSI due to the higher voltage and current stresses on qZSI components. Furthermore, the impact of PV array configuration on the Shoot Through (ST) state of the qZSI and consequently on its reliability is illustrated. The analysis shows that a suitable PV array configuration can improve the qZSI reliability.

목차

Abstract
I. INTRODUCTION
II. PV INVERTER STRUCTURES
III. RELIABILITY PREDICTION APPROACH
IV. COMPARATIVE ASSESSMENT
V. CONCLUSION
REFERENCES

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