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Cuicui Liu (Xi’an Jiaotong University) Ning Liang (Ehv Power Transmisson Company) Yating Gou (Xi’an Jiaotong University) Jiachen Tian (Xi’an Jiaotong University) Fang Zhuo (Xi’an Jiaotong University) Feng Wang (Xi’an Jiaotong University)
저널정보
전력전자학회 ICPE(ISPE)논문집 ICPE 2019-ECCE Asia
발행연도
2019.5
수록면
2,776 - 2,781 (6page)

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As the key component of HVDC converter valve system, thyristors have vital impact on the reliability of the entire HVDC transmission project. In order to effectively obtain the life model of thyristor, this paper uses the existing accelerated life test theory, combined with the operating conditions of the converter valve and the relevant characteristics of the thyristors, to deeply analyse the several stress levels that have the most serious impact on the life of the thyristors. An accelerated life test scheme that can effectively guide the life model of the thyristor, according to the test data collected by this test method, the thyristor junction temperature life model under the short-circuit current stress is established, and compared with the thyristor failure rate in the practical engineering, the results show the feasibility of the test scheme and the correctness of the life model.
#life test #thyristor #reliability #life model

목차

Abstract
I. INTRODUCTION
II. ACCELERATED LIFE TEST TYPE
III. ACCELERATED LIFE TEST SCHEME
IV. ACCELERATED LIFE TEST UNDER SHORT-CIRCUIT CURRENT STRESS
V. LIFE MODEL OF THYRISTOR
VI. CONCLUTIONS AND FUTURE WORK
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