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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
이종호 (서울대학교) 최규봉 (서울대학교)
저널정보
한국진공학회 진공이야기 진공이야기 제3권 제1호
발행연도
2016.3
수록면
16 - 21 (6page)

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FinFETs are able to be scaled down to 22 nm and beyond while suppressing effectively short channel effect, and have superior performance compared to 2-dimensional (2-D) MOSFETs. Bulk FinFETs are built on bulk Si wafers which have less defect density and lower cost than SOI(Silicon-On-Insulator) wafers. In contrast to SOI FinFETs, bulk FinFETs have no floating body effect and better heat transfer rate to the substrate while keeping nearly the same scalability. The bulk FinFET has been developed at 14 nm technology node, and applied in mass production of AP and CPU since 2015. In the development of the bulk FinFETs at 10 nm and beyond, self-heating effects (SHE) is becoming important. Accurate control of device geometry and threshold voltage between devices is also important. The random telegraph noise (RTN) would be problematic in scaled FinFET which has narrow fin width and small fin height.

목차

1. 서론 Scaling-down을 위한 FinFET의 개발
2. SOI FinFET과 벌크 FinFET
3. 벌크 FinFET의 주요 기술 동향 및 이슈
4. 맺음말
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