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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2018.4
- 수록면
- 91 - 97 (7page)
- DOI
- 10.7779/JKSNT.2018.38.2.91
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As the conventional optical defect inspection systems use a single or two lasers to form a measurement region, defects are inspected in a narrow measurement region. In this study, we fabricated a multidiode optical defect inspection system that used multiple laser diodes to expand the measurement region. An experiment was conducted to determine whether the proposed system had a similar performance with respect to the conventional systems. Specimens were fabricated by simulating the defects of the pressure piping, which could occur in a nuclear power plant or in industrial sites. Accordingly, the purpose of the experiment is to examine whether defects could be inspected during the operation of a piping circulation system. Our results show that using multiple laser diodes could reduce the cost and secure a wider measurement region, thereby achieving a cost-effective and high-efficiency defect detection.
목차
Abstract
1. Introduction
2. Optical inspection system using multiple laser diodes
3. Experiment for measuring defects of pressure pipes using the multiple diode defect inspection system
4. Measurement of deformation in defective parts
5. Conclusions
References
참고문헌 (7)
참고문헌 신청
[단행본] - W. Steinchen / 2003 / Digital shearography: theory and application of digital speckle pattern shearing interferometry, Vol. 93 / SPIE Press
[학술지(정기간행물)] - 이종오 / 2003 / 금속압력용기의 사용 전 음향방출시험 / 비파괴검사학회지 23 (3) : 280 ~ 284
[학술지(정기간행물)] - 윤병식 / 2005 / 위상배열 초음파 기법을 이용한 TOFD 검사에 관한 연구 / 비파괴검사학회지 25 (4) : 304 ~ 310
[단행본] - I. K. Park / 2012 / Non-destructive Testing introduction / Node Media : 24 ~ 25
[학술지(정기간행물)] - J. N. Butters / 1971 / Speckle pattern and holographic techniques in engineering metrology / Optics & Laser Technology 3 : 26 ~ 30
[학술지(정기간행물)] - 이종오 / 2003 / 금속압력용기의 사용 전 음향방출시험 / 비파괴검사학회지 23 (3) : 280 ~ 284
[학술지(정기간행물)] - 윤병식 / 2005 / 위상배열 초음파 기법을 이용한 TOFD 검사에 관한 연구 / 비파괴검사학회지 25 (4) : 304 ~ 310
[단행본] - I. K. Park / 2012 / Non-destructive Testing introduction / Node Media : 24 ~ 25
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