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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 저널정보
- 대한산업공학회 Industrial Engineering & Management Systems Industrial Engineering & Management Systems Vol.17 No.1
- 발행연도
- 2018.3
- 수록면
- 102 - 112 (11page)
- DOI
- 10.7232/iems.2018.17.1.102
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This study focuses on adhered dirt such as dust on a product in production process, and considers the relationship between dirt levels of inspection surface and defect detection in visual inspection utilizing peripheral vision. Specifically, images of an inspection surface in an actual factory are analyzed using image analysis for modeling dirt. Moreover, dirt levels of inspection surface, defect locations, and defect characteristics (luminance contrast, size, and bright-dark defects) are designed as experimental factors, and their effect on defect detection rate is evaluated. As a result, it is clarified that the defect detection rate suddenly reduces as the inspection surface becomes dirtier. Consequently, the defects that can be detected easily becomes harder to detect, as the inspection surface is dirtier in visual inspection utilizing peripheral vision.
목차
ABSTRACT
1. INTRODUCTION
2. ANALYSIS AND MODELING OF DIRT
3. EXPERIMENTAL DESIGN
4. EXPERIMENTAL RESULTS
5. DISCUSSION
6. CONCLUSIONS
REFERENCES
참고문헌 (33)
참고문헌 신청
[학술지(정기간행물)] - Aiyama, H. / 2014 / Review on magnetic particle, penetrant and visual testing / Journal of the Japanese Society for NonDestructive Inspection 63 (8) : 387 ~ 390
[단행본] - Akaho, S. / 2008 / Kernel Multivariate Analysis / Iwanami Shoten Publishers
[학술지(정기간행물)] - Aoki, K. / 2014 / Review on in-process inspection / Journal of the Japanese Society for Non-Destructive Inspection 63 (8) : 433 ~ 435
[단행본] - Bishop, C. M. / 2006 / Pattern Recognition and Machine Learning (Information Science and Statistics) / Springer-Verlag
[학술지(정기간행물)] - Chaikin, J. D. / 1962 / Mapping a Field of Short-Time Visual Search / Science 138 (3547) : 1327 ~ 1328
[단행본] - Akaho, S. / 2008 / Kernel Multivariate Analysis / Iwanami Shoten Publishers
[학술지(정기간행물)] - Aoki, K. / 2014 / Review on in-process inspection / Journal of the Japanese Society for Non-Destructive Inspection 63 (8) : 433 ~ 435
[단행본] - Bishop, C. M. / 2006 / Pattern Recognition and Machine Learning (Information Science and Statistics) / Springer-Verlag
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