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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
이민석 (연세대학교) 강문기 (연세대학교)
저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지 전자공학회논문지 제55권 제1호(통권 제482호)
발행연도
2018.1
수록면
83 - 89 (7page)
DOI
10.5573/ieie.2018.55.1.83

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저선량의 X선 영상 시스템은 임상 진단 및 수술 중에 환자의 방사선 위험을 줄이기 위해 지속적으로 발전해 왔다. 그러나, 선량 노출의 감소는 획득 된 영상의 품질 저하를 일으킨다. 본 논문에서는 품질이 저하된 X선 영상에 대해 Transient Improvement (TI) 방법을 통한 샤프닝처리와 에지 보정 (Edge correction, EC) 방법을 결합한 에지 향상 알고리즘을 제안한다. 첫째로, TI 방법을 사용하면 X선 영상의 에지 디테일을 오버 슛 문제없이 선명도를 향상시킬 수 있다. 두 번째로, 타원형 커널을 사용하는 EC 방법을 통해 에지 향상 과정 중에 발생할 수 있는 아티팩트(artifact)를 제거한다. 본 논문에서는, 이 두가지 방법을 영상의 영역별 특징에 따라 적응적으로 결합한 알고리즘을 제안한다. 제안된 방법을 저선량 X선 영상에 적용하여 얻은 실험 결과는 시각적인 측면과 수치적인 측면에서 기존의 에지 향상 기술을 사용하여 개선된 영상과 비교하였다. 그 결과, 제안 된 방법이 객관적인 기준 및 주관적인 측면 모두에서 기존의 에지 향상 방법보다 우수한 것으로 확인되었다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 실험
Ⅳ. 결론
REFERENCES

참고문헌 (13)

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