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학술저널
저자정보
이승목 (신세계엔지니어링) 김영형 (금오공과대학교) 임재권 (금오공과대학교)
저널정보
한국정보기술학회 한국정보기술학회논문지 한국정보기술학회논문지 제19권 제5호(JKIIT, Vol.19, No.5)
발행연도
2021.5
수록면
81 - 86 (6page)
DOI
10.14801/jkiit.2021.19.5.81

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본 논문은 왜곡이 심한 패널 글라스 영상에 대해 DBSCAN 알고리즘을 이용하여 에지 직선을 추정하는 방법을 제안하였다. 패널 글라스를 촬영하면 패널 글라스 에지의 단차, 에지 오염 및 이물 침범으로 인한 에지의 왜곡이 발생된다. 이러한 왜곡을 배제하기 위하여, 에지 검출 후에 검출된 에지 위치와 에지 위치의 변화를 데이터로 하여 이의 히스토그램을 얻고 빈도가 낮은 데이터를 제거한다. 그다음 DBSCAN 알고리즘을 통하여 클러스터링한 후, 최대 크기의 클러스터에 대하여 직선 적합을 적용하여 에지 직선 추정을 하였다. 제안된 알고리즘의 성능을 평가하기 위하여 실제 설비에서 나타나는 다양한 영상을 사용하였고 일반적으로 많이 사용되는 아웃라이어를 배제하여 최적화하는 기법인 RANSAC 방법과 비교하여 제안된 알고리즘의 성능을 평가하였다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. DBSCAN 알고리즘
Ⅲ. 제안된 직선 추정 알고리즘
Ⅳ. 실험 및 고찰
Ⅴ. 결론
References

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