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Purpose: This article provides step-stress accelerated degradation test (ADT) plans based on the Wiener process.
Method: Step-stress levels and the stress change times are determined based on the D-optimality criteria to develop test plans. Further, a simple grid search method is provided for obtaining the optimal test plan.
Results: Based on the solution procedure, ADT plans which include the stress levels and change times are developed for conducting the reliability test.
Conclusion: Optimal step-stress ADT plans are provided for the case where the number of measurements is small.
Method: Step-stress levels and the stress change times are determined based on the D-optimality criteria to develop test plans. Further, a simple grid search method is provided for obtaining the optimal test plan.
Results: Based on the solution procedure, ADT plans which include the stress levels and change times are developed for conducting the reliability test.
Conclusion: Optimal step-stress ADT plans are provided for the case where the number of measurements is small.
목차
1. 서론
2. 연구배경
3. 가정 및 모형
4. 해법 절차 및 최적 시험계획
5. 결론 및 향후 연구 방향
References
참고문헌 (9)
참고문헌 신청
[학술지(정기간행물)] - 성시일 / 2015 / 2006년 이후 발표된 가속수명시험 계획에 관한 문헌 연구 / 신뢰성 응용연구 15 (2) : 84 ~ 89
[학술대회논문] - Li, X. / 2009 / Optimal design for step-stress accelerated degradation testing with competing failure modes / Proceedings of Annual Reliability and Maintainability Symposium
[학술지(정기간행물)] - Liao, C. M. / 2006 / Optimal design for step-stress accelerated degradation tests / IEEE Transactions on Reliability 55 (1) : 59 ~ 66
[학술대회논문] - Zhang, H. / 2010 / Optimal design of step stress accelerated degradation test and reliability assessment for quartz flexible accelerometers / Proceedings of Annual Reliability and Maintainability Symposium
[학술지(정기간행물)] - Ge, Z. / 2010 / Planning of step-stress accelerated degradation test with stress optimization / Advanced Materials Research 118-120 : 404 ~ 408
[학술대회논문] - Li, X. / 2009 / Optimal design for step-stress accelerated degradation testing with competing failure modes / Proceedings of Annual Reliability and Maintainability Symposium
[학술지(정기간행물)] - Liao, C. M. / 2006 / Optimal design for step-stress accelerated degradation tests / IEEE Transactions on Reliability 55 (1) : 59 ~ 66
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