OLED TV Panel의 전류가속열화시험 설계

유지선; 이득중; 오창석; 장중순

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자료유형: 학술저널

저자정보: 유지선 (아주대학교) 이득중 (LG display) 오창석 (LG display) 장중순 (아주대학교)

저널정보: 한국신뢰성학회 신뢰성응용연구 신뢰성응용연구 제17권 제1호

발행연도: 2017.3

수록면: 22 - 27 (6page)

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Purpose: The purpose of this study is to estimate the life time of OLED TV panel through electric current ADT(Accelerated Degradation Test).
Methods: We performed accelerated degradation test for OLED TV Panel at the room temperature to avoid high temperature impact on the luminance.
Results: we got more accurately the life time of the OLED TV when we applied ADT without temperature factor than including both current and temperature.
Conclusion: Until now, the ADT of the OLED TV has been conducted with temperature and current at the same time for reducing test time and costs. We estimate incorrect life time when the temperature is adopted as an accelerated factor. Due to the high temperature impact on the luminance of the OLED TV panel. So as to solve this problem, we discard temperature and use electric current only.

#OLED TV Panel #Accelerated Degradation Test #Degradation Model #Electric Current Acceleration

참고문헌 (12)

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[학술지(정기간행물)] - 최영태 / 2008 / OLED소자의 가속수명 시험에 관한 연구 / 대한안전경영과학회지 10 (3) : 73 ~ 79

[학술지(정기간행물)] - 문진철 / 2012 / 가속수명시험(ALT)을 이용한 WOLED의 성능 및 신뢰성 평가 / 한국안전학회지 27 (4) : 13 ~ 19

[학술지(정기간행물)] - 김형의 / 2012 / 가속 스트레스의 교호작용을 고려한 가속계수 모델에 대한 연구 / 대한기계학회논문집 A 36 (7) : 751 ~ 757

[학술지(정기간행물)] - Chesterman, F. E. / 2016 / Influence of Temperature on the Steady State and Transient Luminance of an OLED Display / Journal of Display Technology 12 (11) : 1268 ~ 1277

[학술지(정기간행물)] - 이호식 / 2007 / 온도 변화에 따른 OLED 소자의 전기전도 특성 / 한국정보통신학회논문지 11 (12) : 2361 ~ 2365

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