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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
Jinyeol Yang (Samsung Electronics) Soonkyu Hwang (Korea Advanced Institute of Science and Technology) Jaemook Choi (Korea Advanced Institute of Science and Technology) Hoon Sohn (Korea Advanced Institute of Science and Technology)
저널정보
한국비파괴검사학회 비파괴검사학회지 비파괴검사학회지 제37권 제2호
발행연도
2017.4
수록면
106 - 114 (9page)

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This paper presents an automated subsurface micro void detection technique based on pulsed infrared thermography for inspecting epoxy molding compounds (EMC) used in electronic device packaging. Subsurface micro voids are first detected and visualized by extracting a lock-in amplitude image from raw thermal images. Binary imaging follows to achieve better visualization of subsurface micro voids. A median filter is then applied for removing sparse noise components. The performance of the proposed technique is tested using 36 EMC samples, which have subsurface (below 150 μm ~ 300 μm from the inspection surface) micro voids (150 μm ~ 300 μm in diameter). The experimental results show that the subsurface micro voids can be successfully detected without causing any damage to the EMC samples, making it suitable for automated online inspection.

목차

Abstract
1. Introduction
2. Active Infrared Thermography System
3. Development of Baseline-free Subsurface Micro Void Visualization Algorithm
4. Experimental investigation
5. Conclusion
References

참고문헌 (17)

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