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In this study, we analyzed the effects of TID(Total Ionizing Dese) and TREE(Transient Radiation Effects on Electronics) on nMOSFET and pMOSFET fabricated by 0.18um CMOS process. The size of nMOSFET and pMOSFET is 100um/1um(W/L). The TID test was conducted up to 1 Mrad(Si) with a gamma-ray(Co-60). During the TID test, the nMOSFET generated leakage current proportional to the applied dose, but that of the pMOSFET was remained in a steady state. The TREE test was conducted at TEST LINAC in Pohang Accelerator Laboratory with a maximum dose-rate of 3.16×10<SUP>8</SUP>rad(Si)/s. In that test nMOESFET generated a large amount of photocurrent at a maximum of 3.16 × 10<SUP>8</SUP>rad(si)/s. Whereas, pMOSFETs showed high TREE immunity with a little amount of photocurrent at the same dose rate. Based on the results of this experiment, we will progress the research of the radiation hardening for CMOS unit devices.
목차
Abstract
1. 서론
2. 방사선 시험용 CMOS 0.18um 단위소자
3. CMOS 단위소자 TID 시험
4. CMOS 단위소자 TREE 시험
5. 결론
References
참고문헌 (12)
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George C. Messenger, Milton S. Ash, The effects of radiation on electronic systems, 2nd Edition, New York : Van Nostrand Reinhold, cop., 1992.
T. H. Kim, H. C. Lee, “The Analysis of Total Ionizing Dose Effects on Analog-to-Digital Converter for Space Application,” Journal of the Institute of Electronics Engineers, Vol. 50, no. 6, pp. 85-90, Jun. 2013.
P. C. Adell, R. D. Schrimpf, W. T. Holman J. Boch, J. Stacey, P. Ribero, A. Sternberg, K. F. Galloway, “Total- Dose and Single-Event Effects in DC/DC Converter Control Circuitry,” IEEE Trans. on Nuclear Science, Vol. 50, No. 6 pp. 1867-1872, December. 2003.
A. M. Chugg, “Ionizing radiation effects:a vital issue for semiconductor electronics,” Engineering Science and Education Journal, Vol. 3, No. 3, June. 1994.
N. H. Lee, Y. G. Hwang, J. R. Kim, S. H. Jeong, S. C. Oh, “A Study on Implementation of Transient Radiation Effects on Electronics(TREE) Assessment System,” Journal of the Korea Institute of Information and Communication Engineering, Vol. 16, No. 10, pp. 2329- 2334, October. 2012.
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