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Thermal radiation pastes were prepared by dispersing carbon materials as fillers with a content of 1 weight percent in an acrylic resin. The kind of fillers was as follows; 25 μm graphite, 45 μm graphite, 15 μm carbon nanotube(CNT), a 1:1 mixture of 25 μm graphite and 15 μm CNT, and a 1:1 mixture of 45 μm graphite and 15 μm CNT. Thermal emissivity was measured as 0.890 for the samples with graphite only, 0.893 for that with CNT only, and 0.892 for those containing both. After coating prepared pastes on a side of 0.4 mm thick aluminium plate and placing the plate over an opening of a box maintained at 92℃ with the coated side out, the temperatures on the uncoated side of the plates were measured. The samples containing graphite and CNT showed the lowest temperatures. The paste with mixed fillers was coated on the back side of the PCB of an LED module and thermal analysis was carried out using Thermal Transient Tester (T3ster) in a still air box. The thermal resistance of the module with coated PCB was measured as 14.34 K/W whereas that with uncoated PCB was 15.02 K/W. The structure function analysis of T3ster data revealed that the difference between junction and ambient temperatures was 13.8℃ for the coated case and 18.0℃ for the uncoated. From the infrared images of heated LED modules, the hottest-spot temperature of the module with coated PCB was lower than that of the uncoated one for a given period of LED operation.
목차
Abstract
1. 서론
2. 실험방법
3. 실험결과 및 검토
4. 결론
References
참고문헌 (24)
참고문헌 신청
A. Castellazzi, M. Honsberg-Riedl, G. Wachutka, Thermal characterization of power devices during transient operation, Microelectron. J., 37 (2006) 145-151.
S. Garimella, A. S. Fleischer, J. Y. Murphy, A. Keshavarzi, R. Prasher, C. Patel, S. H. Bhavnani, R. Venkatasubramanian, R. Mahajan, Y. Joshi, B. Sammakia, B. A. Myers, L. Chorosinski, M. Baelmans, P. Sathyamurthy, Thermal challenges in nextgeneration electronic systems, IEEE Trans. Comp. Pack. Tech., 31 (2008) 801-813.
A. Castellazzi, T. Funaki, T. Kimoto, T. Hikihara, Thermal instability effects in SiC power MOSFETs, Microelectron. Reliab., 52 (2012) 2414-2419.
M. Riccio, A. Castellazzi, G. de Falco, A. Irace, Experimental analysis of electro-thermal instability in SiC power MOSFETs, Microelectron. Reliab., 53 (2013) 1739-1744.
D. A. Jaworske, Optical and calorimetric evaluation of Z-93-P and other thermal control coatings, Thin Solid Films, 290-291 (1996) 278-282.
S. Garimella, A. S. Fleischer, J. Y. Murphy, A. Keshavarzi, R. Prasher, C. Patel, S. H. Bhavnani, R. Venkatasubramanian, R. Mahajan, Y. Joshi, B. Sammakia, B. A. Myers, L. Chorosinski, M. Baelmans, P. Sathyamurthy, Thermal challenges in nextgeneration electronic systems, IEEE Trans. Comp. Pack. Tech., 31 (2008) 801-813.
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