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자료유형
학술저널
저자정보
심희수 (Seoul Nat’l Univ. of Sci. and Tech.) 김선경 (Seoul Nat’l Univ. of Sci. and Tech.)
저널정보
한국생산제조학회 한국생산제조학회지 한국생산제조시스템학회지 Vol.24 No.6
발행연도
2015.12
수록면
647 - 652 (6page)

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A probe pin is a key component of LED inspection equipment. The probe pin makes contact with the LED electrodes and supplies an electric current. Because the mechanical and electrical homogeneity of the probe surface affects the service life and reliability, its characterization is essential. For this study, the hardness was measured using a micro-Vickers hardness test. Moreover, the thicknesses of the plating at different locations and the elemental compositions were examined using an FE-SEM. The uniformity of the plating was found to be acceptable because palladium was detected consistently throughout the tested domain. In addition, the hardness of the surface was determined to be higher than that of the typical palladium range, which is attributed to the use of undercoated nickel.
#LED inspection system #Probe pin #Micro-vickers hardness #Plating

목차

ABSTRACT
1. 서론
2. 실험
3. 결과
4. 결론
References

참고문헌 (17)

참고문헌 신청
[학위논문] - Lee, S. J. / 2013 / The Presence of Korea Display Industry and Future Prospect / Master / Sungkyunkwan University google schola [학위논문] - Park, S. H. / 2011 / Fast Edge Detection & Feature Tracking Algorithm for Display Equipment Inspection / Master / Hanyang University google schola [학술지(정기간행물)] - 이시우 / 2013 / 빛 공해 방지를 위한 유럽형 LED 가로등용 비구면 광학계에 관한 연구 / 한국생산제조시스템학회지 22 (3) : 429 ~ 436 dbpia [학술지(정기간행물)] - 유경선 / 2014 / COB LED High Bay 대칭형 광학계의 배광각에 관한 연구 / 한국생산제조학회지 23 (6) : 609 ~ 617 dbpia [학술지(정기간행물)] - 김대완 / 2011 / 5면 Photodiode를 이용한 양산 공정용 LED 지향각 측정 시스템개발에 관한 연구 / 한국생산제조시스템학회지 20 (5) : 623 ~ 631 dbpia

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