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저자정보
Chang-Lin Li (Sungkyunkwan University) Hyun Joong Kim (Sungkyunkwan University) Seo Weon Heo (Hongik University) Tae Hee Han (Sungkyunkwan University)
저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.15 No.6
발행연도
2015.12
수록면
678 - 684 (7page)

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Near-threshold computing (NTC) is now regarded as a promising candidate for innovative power reduction, which cannot be achieved with conventional super-threshold computing (STC). However, performance degradation and vulnerability to process variation in the NTC regime are the primary concerns. In this paper, we propose a voltage- and frequency-tuning methodology for mitigating the process-variation-induced problems in NTC-based manycore architectures. To implement the proposed methodology, we build up multiplevoltage multiple-frequency (MVMF) islands and apply a voltage-frequency tuning algorithm based on the critical-path monitoring technique to reduce the effects of process variation and maximize energy efficiency in the post-silicon stage. Experimental results show that the proposed methodology reduces overall power consumption by 8.2–20.0%, compared to existing methods in variation-sensitive NTC environments.

목차

Abstract
I. INTRODUCTION
II. TUNABLE NTC ARCHITECTURE
III. PROPOSED V/F TUNING METHODOLOGY
IV. EXPERIMENTAL RESULTS
V. CONCLUSIONS
REFERENCES

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