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한국컴퓨터정보학회 한국컴퓨터정보학회논문지 한국컴퓨터정보학회 논문지 제10권 제6호
발행연도
2005.12
수록면
17 - 25 (9page)

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본 논문에서는 통계학의 선형순위통계량(linear rank statistics)에 기초한 3가지 비모수 검정법 즉, Wilcoxon 검정법, Median 검정법 그리고 Van der Waerden 검정법을 이용하여 에지를 검출하고자 한다. 5×5 윈도우상에서 중심픽셀의 에지여부는 에지-높이 모수(edge-height parameter)를 사용한 모형하에서 두 영역간의 유의한 차이가 있는지를 검정함으로서 결정한다.
영상실험에서 통계적 방법들 간의 에지검출 성능은 에지맵(edge map)을 통한 정성적인 비교와 객관적인 척도 하에서 정량적인 비교를 통하여 분석하였다.

목차

요약

Abstract

Ⅰ. 서론

Ⅱ. 통계적인 선형 순위 검정법

Ⅲ. 에지검출을 위한 선형순위검정법

Ⅳ. 영상실험 및 논의사항

Ⅴ. 결론

참고문헌

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참고문헌 (7)

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