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논문 기본 정보

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저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지-SP 전자공학회논문지 SP편 제41권 제3호
발행연도
2004.5
수록면
147 - 153 (7page)

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이 논문의 연구 히스토리 (3)

2010

칼라 에지 검출을 위한 Van der Waerden 검정 통계 기법
최명희 ,  경왕준 ,  하영호 한국화상학회지 2010.01 학술저널

2004

Waerden 통계량을 이용한 강인한 에지검출 방법
최명희 ,  이호근 ,  김주원 외 1명 전자공학회논문지-SP 2004.05 학술저널

2002

Van der Waerden의 통계량을 이용한 영상에서의 효율적인 에지검출기법
최명희 ,  이호근 ,  김주원 외 1명 대한전자공학회 학술대회 2002.06 학술대회자료

초록· 키워드

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본 논문에서는 원영상과 잡음영상에서 Waerden 통계량을 이용하여 효율적인 에지 검출을 제안한다. 에지는 영상의 밝기값이 낮은 값에서 높은 값으로 또는 높은 값에서 낮은 값으로 급격히 변하는 경계에 존재한다. 통계적 에지 검출 방법으로 통계 가설 검정인 비모수 Wilcoxon 검정과 모수 T검정을 설명한다. 특정한 유의수준 α에 의해 결정되어 지는 임계값을 사용하며, 반면 Bovik, Huang 과 Munson은 임계값에 대한 검정 통계량의 가능한 범위를 생각한다. 에지 검출의 실험 결과로부터 T와 Wilcoxon 방법은 잡음 영상에 민감하게 반응하는데 반하여 제안한 Waerden 방법은 유의수준 α= 0.0005에서 잡음 영상과 잡음이 없는 영상 모두에서 로버스트 하다. 통계적인 검정 방법들과 Sobel, LoG, Canny 연산자를 이용한 에지검출 방법을 비교해보면, Waerden 방법이 잡음 영상과 잡음 없는 영상 모두에 훨씬 더 효율적으로 에지를 검출한다.

목차

요약

Abstract

1. 서론

2. 에지 검출을 위한 통계적 검정법

3. 제안한 정규점수 검정법을 이용한 에지 검출

4. 실험 및 고찰

5. 결론

참고문헌

저자소개

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