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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 저널정보
- 대한전자공학회 ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications ITC-CSCC 2015
- 발행연도
- 2015.6
- 수록면
- 780 - 783 (4page)
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This article describes the design of test ship and fabrication also the electrical model extraction of a pn junction for VLSI circuits. The rectangular structure which the ratio between perimeter and area is minimized and multi firing structure which the ratio between perimeter and area is very much are used for parameter extraction. The N+/Psub and P+/Nwell junction are testing devices. The SPICE simulations are performed using extracted parameters also. Simulation results have been compared with real measurement data. The comparison between SPICE simulation and experimental data is a good agreement with the maximum error 1.2% of value. Finally, the work is finalized by determining the model performance and its accuracy. The overall data should be a data base of the design tool kit which hand out to the circuit designer.
목차
Abstract
I. INTRODUCTION
II. THEORY
III. RESULTS AND DISCUSSIONS
IV. CONCLUSIONS
REFERENCES
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