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논문 기본 정보
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- 저자정보
- 저널정보
- 대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 CAD 및 VLSI 설계 연구회 종합 학술 대회 1995 : ASIC Design Workshop, 신진 박사 논문 발표 대회 및 공개 토론회 논문집
- 발행연도
- 1995.7
- 수록면
- 229 - 253 (25page)
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목차
Objective
Fault Model
Defects in Real World
Iddq Testing Example
Procedure Used in This Study
Fault Collapsing
Profiles of ISCAS ‘85 Benchmark Circuits
Stuck-at Test Results of ISCAS ‘85 Benchmark Circuits
Test Results of Intra-transistor Bridging Faults of ISCAS ‘85 Benchmarks
Test Results of Gate-level Bridging Faults of ISCAS ‘85 Benchmarks
Overall Test Results of ISCAS ‘85 Benchmarks
Bridging Fault Detection of ISCAS ‘85 Circuits in Iddq by Stuck-at Test Sets vs. Iddq Test Sets
Profiles of ISCAS ‘89 Benchmark Circuits
Stuck-at Test Results of ISCAS ‘89 Benchmark Circuits
Test Results of Intra-transistor Bridging Faults of ISCAS ‘89 Benchmarks
Test Results of Gate-level Bridging Faults of ISCAS ‘89 Benchmarks
Overall Test Results of ISCAS ‘89 Benchmarks
Relationship Between Stuck-at Test Sets and Iddq Testing on Bridging Faults
A Case Study
Functional Fault Model of a Microprogrammed Processor
Iddq Testing on Bridging Faults with Functional Test Sets
Conclusions
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