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이용수
Abstract
1. Introduction
2. Background and Terminology
3. NSOM : A New Scan Design Method for Test Time Reduction
4. Test Time and Cost Impact
5. Conclusions
References
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테스트 시간 단축을 위한 새로운 스캔 설계방식 ( NSOM : A New Scan Design Method for Test Time Reduction )
대한전자공학회 학술대회
1991 .07
테스트 시간과 테스트 전력 감소를 위한 선택적 세그먼트 바이패스 스캔 구조
전자공학회논문지-SD
2009 .05
Signal Integrity 연결선 테스트용 다중천이 패턴 생성방안
전자공학회논문지-SD
2008 .10
지연고장 검출을 위한 LOS/LOC 스캔 테스트 기술
한국인터넷방송통신학회 논문지
2014 .01
구조분석과 테스트 가능도의 통합에 의한 부분스캔 설계
정보과학회논문지(A)
1999 .09
Reduction of Test Data and Power in Scan Testing for Digital Circuits using the Code-based Technique
전자공학회논문지-IE
2008 .09
테스트 스케줄링을 이용한 VLSI 회로의 스캔 테스터블 설계
한국정보과학회 학술발표논문집
1993 .04
Boundary 스캔 구조를 이용한 효율적인 테스트 패턴 인가 방식 ( An Efficient Test Pattern Application Method Using Boundary-Scan Architecture )
대한전자공학회 학술대회
1993 .01
대규모 집적회로 설계를 위한 무고정 부분 스캔 테스트 방법 ( No-Holding Partial Scan Test Method for Large VLSI Designs )
전자공학회논문지-C
1998 .03
구조분석과 테스트 가능도에 의한 부분스캔 설계
한국정보과학회 학술발표논문집
1997 .10
Boundary 스캔 구조를 이용한 효율적인 지연테스트기법 설계
한국정보과학회 학술발표논문집
1993 .10
구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계 ( A Unification of Structural Analysis And Testabilities For a Partial Scan Design )
대한전자공학회 학술대회
1997 .11
구조분석 및 테스트 가능도 통합에 의한 부분스캔 설계
대한전자공학회 학술대회
1997 .11
테스트 데이터와 전력소비 단축을 위한 저비용 SOC 테스트 기법
전자공학회논문지-SD
2004 .12
원형스캔 레이더 식별을 위한 스캔변수 추정기법
전자공학회논문지-SP
2006 .11
System-On-a-Chip(SOC)에 대한 효율적인 테스트 데이터 압축 및 저전력 스캔 테스트
전자공학회논문지-SD
2002 .12
배선 길이 최소화를 위한 그룹화된 스캔 체인 재구성 방법
전자공학회논문지-SD
2002 .08
저 진력을 고려한 스캔 체인 수정에 관한 연구
한국정보과학회 학술발표논문집
2005 .11
BIST 환경에서의 천이 억제 스캔 셀 구조
전자공학회논문지-SD
2006 .06
기판 검사를 위한 다중 스캔 경로 제어기의 설계 및 구현
정보과학회논문지(C)
1996 .12
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