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최재웅 (광운대학교) 정진호 (광운대학교) 박찬형 (광운대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 2007년도 추계학술대회 논문집Ⅱ
발행연도
2007.11
수록면
483 - 484 (2page)

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This paper presents MOSFET 1/f noise reduction effect under switching bias condition and proposes device-under-test blocks on-a-chip. Compared to a conventional noise measurement system, a new noise measurement system is implemented on-chip, so that it has advantages in its s ... 전체 초록 보기

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