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논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
윤현돈 (포항공과대학교) 정홍 (포항공과대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 2006년도 추계학술대회 논문집Ⅱ
발행연도
2006.11
수록면
804 - 807 (4page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2006

OLED의 노화에 따른 밝기 감쇠측정 시스템과 노화 보상 시스템 연구
윤현돈 ,  정홍 대한전자공학회 학술대회 2006.11 학술대회자료
OLED의 노화에 따른 밝기 감쇠측정 시스템
윤현돈 ,  정홍 대한전자공학회 학술대회 2006.06 학술대회자료

초록· 키워드

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Th is paper presents precise measurement system for the lifetime of OLEO. The proposed system collects the data for using voltage drop across the OLEO Panels, and then the computer program makes an analysis of the data. In this process of measurement, the current across OLEO material must be amplified because the current is very small. However, amplifying the current causes the amplification of noise Therefore, the proposed system measures the current using an algorithm which minimizes the noise.

목차

Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 구현
Ⅳ. 결론 및 향후 연구 방향
참고문헌

참고문헌 (0)

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