Measurement of Carrier Density Profile in A Silicon Junction by Scanning Capacitance Microscopy

국양 ,  강치중 ,  부경호 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

The SCM Method for Three-Dimensional Dopant Profiles

이준하 ,  이홍주

한국산학기술학회 논문지

2006 .02

Influence of Dopant Ionization Energy on the Capacitance-Voltage Profile of Delta-Doped Structures

문착록 ,  최병두 ,  권상덕 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

A Scanning Capacitance Microscopy Study on the Recombination Dynamics of Traps in SiO2 Layer on Si

강치중 ,  부경호 ,  이승준 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

SCM 성과를 결정하는 SCM 영향요인에 관한 연구 : 한국기업과 일본기업의 비교를 중심으로

윤장석 ,  신건철

한국 SCM 학회지

2008 .05

기술, 조직, 환경요인이 SCM 정보시스템 확산 및 성과에 미치는 영향

김태우 ,  서창교

한국 SCM 학회지

2016 .10

RFID와 e-SCM의 고찰

김철중

정보학연구

2005 .01

정보시스템 활용 패턴이 이용 만족도에 미치는 영향에 관한 연구 : 웹EDI 기반 SCM을 중심으로

조남재 ,  손지호 ,  정진관

한국전자거래학회 학술대회 발표집

2006 .11

Direct Imaging of Dopant Profiles using Modified Atomic Force Microscope

K. M. Mang ,  Y. Khang ,  Y. J. Pa 외 4명

대한전자공학회 학술대회

1996 .01

Small-Geometry MOSFET에서 Bias에 따른 게이트 Capacitance 측정 ( Gate Capacitance Measurement on the Small-Geometry MOSFET`s with Bias )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 1명

전자공학회논문지

1987 .09

SCM 정보시스템의 핵심기능 분석

김태우 ,  서창교

한국 SCM 학회지

2014 .10

PC에서의 소프트웨어 형상관리 자동화도구 분석 및 설계

김상하 ,  염상기 ,  김문규

한국정보과학회 학술발표논문집

1988 .04

e-Trade의 SCM Process에 관한 硏究

김명호

한국정보통신학회논문지

2004 .08

반도체 제조업에 대한 SCM 적용에서 얻은 교훈: 공정시스템공학적 분석

유준형

화학공학

2006 .01

Study of Nano-Structure by Using Scanning Probe Microscopy

K ,  Young-u

한국재료학회 학술발표대회

1992 .01

SCM 성공 모형

최일용 ,  최형림 ,  김현수 외 2명

한국정보시스템학회 춘계 학술발표논문집

2005 .01

Co/M/(100)Si에서의 dopant의 열처리에 따른 재분포

권영재 ,  이종무 ,  배대록 외 1명

한국재료학회 학술발표대회

1997 .01

Scanning Probe Microscopy of Polymer Materials

K . J . Ihn ,  J . A . N . Zasadzinski

고분자 과학과 기술

1992 .03

RTE 특성이 SCM성과에 미치는 영향

장활식 ,  전종현 ,  박광오

정보시스템연구

2011 .01