테스트가 용이한 CMOS-Domino Logic Array의 설계 ( The Design of Easily Testable CMOS-Domino Logic Array )

임재윤 ,  김영우 ,  홍인식 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1986 .01

테스트가 용이한 CMOS-Domino Logic Array의 설계

임재윤 ,  김영우 ,  홍인식 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1986 .12

DYNAMIC CMOS ARRAY LOGIC의 설계 ( Design of DYNAMIC CMOS ARRAY LOGIC )

한석붕 ,  임인칠

전자공학회논문지

1989 .10

Domino CMOS NOR-NOR Array Logic의 Testable Design에 관한 연구 ( A Study on the Testable Design of Domino CMOS NOR-NOR Array Logic )

이중호 ,  조상복

대한전자공학회 학술대회

1988 .07

Domino CMOS NOR-NOR Array Logic의 Testable Design에 관한 연구

이중호 ,  조상복

대한전기학회 학술대회 논문집

1988 .07

Domino CMOS NOR-NOR Array Logic의 Testable Design에 관한 연구 ( A Study on Testable Design and Development of Domino CMOS NOR-NOR Array Logic )

이중호 ,  조상복 ,  정천석

전자공학회논문지

1989 .06

순서 CMOS Domino Logic Array의 설계 및 테스트 ( Design and Test of Sequential CMOS Domino Logic Array )

박진관 ,  김윤홍 ,  정준모 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1987 .07

순서 CMOS Domino Logic Array 의 설계 및 테스트

박진관 ,  김윤홍 ,  정준모 외 2명

대한전기학회 학술대회 논문집

1987 .07

CMOS 회로에 대한 테스트 생성 방법 ( A Test Generation Method for CMOS Circuits )

정준모 ,  장원학 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1988 .11

CMOS 회로의 테스트 생성 알고리즘 ( A Test Generation Algorithm for CMOS Circuits )

조상복 ,  임인칠

전자공학회지

1984 .11

CMOS Domino Logic Array의 설계 및 테스트 ( ALU Design of CMOS Single Chip Microcomputer )

박용수 ,  류기철 ,  김태경 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1987 .07

연결 그래프를 이용한 CMOS 논리회로의 테스트 생성 알고리즘 ( Test Generation Algorithm for CMOS Logic Circuits Using Connection Graph )

조상복 ,  신용철 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1984 .01

CMOS Gate Array의 개발 ( Development of a CMOS Date Array )

장영조 ,  이철동

대한전자공학회 학술대회

1985 .01

테스트가 용이한 CMOS 순서 PLA의 설계

이종철 ,  임재윤 ,  한석붕 외 2명

대한전기학회 학술대회 논문집

1987 .07

테스트가 용이한 순서 CMOS PLA의 설계 ( Design of Easily Testable CMOS Sequential PLAs )

이종철 ,  임재윤 ,  한석붕 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1987 .07

Built-In Test 방식을 이용한 Programmable Logic Array의 Testable Design ( Programmable Logic Array Testable Design Using Built-In Test Technique )

김동욱 ,  한석붕 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1984 .01

논리 게이트 모델링을 이용한 다이나믹 CMOS 회로의 테스트 생성 알고리듬

고영만 ,  박경훈 ,  정종구 외 4명

대한전자공학회 학술대회

1991 .06

논리 게이트 모델링을 이용한 다이나믹 Cmos 회로의 테스트 생성 알고리듬 ( A Test Generation Algorithm For Dynamic Cmos Logic Circuits Using Logic Gate Modeling )

고영만 ,  박경훈 ,  정종구 외 4명

대한전자공학회 학술대회

1991 .07

Domino CMOS NOR-NOR Array Logic의 Built-In Self Test에 관한 연구 ( A Study on Built-In Self Test for Domino CMOS NOR-NOR Array Logic )

여정모 ,  허영도 ,  이중호 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1989 .11

테스트가 용이한 PLA 설계방식과 테스트 생성 ( Easily Testable Design and Test Generation for PLA`s )

김은성 ,  조상복 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1984 .01