한국에서의 Metrology 현황

박긍식

대한전자공학회 학술대회

1981 .08

한국에서의 Metrology 현황

박긍식

대한전자공학회 학술대회

1981 .01

주사 범위 확장 펨토초 레이저를 이용한 고단차 형상 측정

박지용 ,  김승만 ,  김병수 외 3명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2017 .05

스마트 기기를 위한 정밀 구조 계측

진종한 ,  박정재 ,  김재완 외 2명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2015 .05

우주프로젝트를 위한 초정밀 광계측

이주형 ,  김영진 ,  이상현 외 8명

한국생산제조학회 학술발표대회 논문집

2013 .04

Noisy GHZ States for Quantum Metrology

Muhammad Asad Ullah ,  Youngmin Jeong ,  Hyundong Shin

한국통신학회 학술대회논문집

2017 .11

Wafer defect analysis and monitoring method using process big data

Younghoon Sohn ,  Mingoo Seo ,  Hyun Lee 외 5명

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2013 .05

Semi-Supervised Regression Methods for Virtual Metrology Modeling

최우식 ,  김성범

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2017 .04

Entanglement in Mixed State Quantum Metrology

Uman Khalid ,  Youngmin Jeong ,  Hyundong Shin

한국통신학회 학술대회논문집

2017 .11

펨토초 레이저의 합성파를 이용한 절대 거리 측정

진종한 ,  김영진 ,  김윤석 외 1명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2006 .10

강연 : Recent Developments in Manufacturing Metrology at UMIST

M. Bu ,  dekin

대한기계학회 춘추학술대회 강연집

1998 .01

International Workshop on Holographic Metrology in Fluid Dynamics 참가기(記)

김석

한국가시화정보학회지

2003 .12

품질 특성치를 예측하기 위한 가상계측 모델

문병민 ,  배석주

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2013 .11

Virtual Metrology Technique for 100% Wafer-to-Wafer Variation Monitoring in the Semiconductor Manufacturing Processes

Baejin Lee ,  Yooseok Jang ,  Yusin Yang 외 4명

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2013 .05

Josephson Junction Array for Voltage Metrology

Kim ,  Mun-Seog ,  Chong 외 3명

한국초전도학회 High Temperature Superconductivity

2005 .01

Mechanical Buckling for Metrology and Stretchable Electronics

강달영

한국고분자학회 학술대회 연구논문 초록집

2011 .04

LASER

박병철

전자공학회지

1969 .11

Recursive Least Squares Run-to-Run Control with Time-Varying Metrology Delays

Shu-Kai Fan ,  Yuan-Jung Chang

Industrial Engineering & Management Systems

2010 .09

The Mechanical Design and requirements of AFM for Quantitative Critical Dimension Nano-Metrology

Sang-Joon Cho

대한기계학회 춘추학술대회

2014 .11