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The switching noise in the power electronics of the power conversion equipment (Power Conditioning System) for large energy storage devices are generated. Since the burst-level transient noise from being generated in the power system at a higher power change process influences the control circuit of the low voltage driver circuit. Noise may cause the malfunction of the control device even if no dielectric breakdown leads to a control circuit. To overcome this, this paper proposes the installation of an additional nano-surge protection device on the power supply DC output circuit of the battery management unit.
목차
Abstract
1. 서론
2. 본론
3. 결론
References
참고문헌 (9)
참고문헌 신청
1. [학술대회논문] - K. Matsumoto / 2011 / A Two-Phase High Step Down Coupled-Inductor Converter for Next Generation Low Voltage CPU / International Conference on Power Electronics-ECCE Asia
2. [학술지(정기간행물)] - Ravishankar K. Iyer / 1986 / A Measurement-Based Model for Workload Dependence of CPU Errors / IEEE Transactions on Computers c-35 (6)
3. [기타자료] - / 2007 / Low-voltage electrical installations –Part 4-44:Protection for safety – Protection against voltage disturbances and electromagnetic disturbances / IEC 60364-4-44
4. [기타자료] - / 2009 / Corrigendum 1 - Electromagnetic compatibility (EMC)- Part 4-5: Testing and measurement techniques -Surge immunity test / IEC 61000-4-5
5. [기타자료] - / 2010 / Amendment 1 - Electromagnetic compatibility (EMC) -Part 4-18: Testing and measurement techniques -Damped oscillatory wave immunity test / IEC 61000-4-18
2. [학술지(정기간행물)] - Ravishankar K. Iyer / 1986 / A Measurement-Based Model for Workload Dependence of CPU Errors / IEEE Transactions on Computers c-35 (6)
3. [기타자료] - / 2007 / Low-voltage electrical installations –Part 4-44:Protection for safety – Protection against voltage disturbances and electromagnetic disturbances / IEC 60364-4-44
4. [기타자료] - / 2009 / Corrigendum 1 - Electromagnetic compatibility (EMC)- Part 4-5: Testing and measurement techniques -Surge immunity test / IEC 61000-4-5
5. [기타자료] - / 2010 / Amendment 1 - Electromagnetic compatibility (EMC) -Part 4-18: Testing and measurement techniques -Damped oscillatory wave immunity test / IEC 61000-4-18
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