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저자정보
김동현 (한양대학교) 정완호 (한양대학교) 김학성 (한양대학교)
저널정보
대한기계학회 대한기계학회 춘추학술대회 대한기계학회 2014년도 추계학술대회
발행연도
2014.11
수록면
712 - 715 (4page)

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In this work, non-destructive evaluation was conducted to measure the sheet resistance of silver nanowire coated film and find the damage of that film by using terahertz (THz) wave. Pulse type THz instrument was used, and the measurement was under transmission and pitch-catch reflection type with 30 degree of incidence angle. In transmission type, intensity of the THz wave was gradually increased as the sheet resistance increased. On the other hand, the intensity showed an opposite result in pitch-catch reflection type. Interaction formula was drawn from the relation between intensity and sheet resistance. In addition, damage on the silver nanowire coated film was detected by applying the THz image system. Reliability of the entire film can be also be measured by enlarging the imaging area. Therefore, real-time monitoring using the THz wave can be applied in various industries where it is required to measure the sheet resistance without any damage.
#Terahertz wave(테라헤르츠 파) #Sheet resistance(면저항) #Non-destructive Evaluation(비파괴검사) #Silver nanowire(은 나노와이어)

목차

Abstract
1. 서론
2. 실험
3. 결과 및 고찰
4. 결론
참고문헌

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