지원사업
학술연구/단체지원/교육 등 연구자 활동을 지속하도록 DBpia가 지원하고 있어요.
커뮤니티
연구자들이 자신의 연구와 전문성을 널리 알리고, 새로운 협력의 기회를 만들 수 있는 네트워킹 공간이에요.
논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2012.6
- 수록면
- 1,046 - 1,049 (4page)
이용수
초록· 키워드
오류제보하기
반도체 패키지가 경박단소화되면서 외관 검사의 난이도가 증가하고 있으며, 자동 외관 검사 장치에 사용되는 CCD 및 CMOS 센서의 집적도 향상 및 분해능이 증가됨에 따라 외관 불량 검출력 증대에 대한 관심이 높아지고 있다. 그러나 일반적으로 적용되고 있는 Ball 검사와 Marking 검사를 위한 단순 조명 구성으로는 검출력에 한계를 보이고 있다. 이에 본 연구에서 반도체 패키지의 외관 불량과 조명 구조 및 색상과의 상관관계를 밝혀, 자동 외관 검사 장치의 조명 시스템 구조와 색상 구성의 Guide Line을 제시한다.
목차
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
Ⅲ. 결론
Ⅳ. 향후 연구 방향
Ⅴ. 참고문헌
참고문헌 (0)
참고문헌 신청이 논문의 저자 정보
이 논문과 함께 이용한 논문
플라즈마를 이용한 TFT LCD PANEL 검사의 검출력 향상 평가 방법 연구
이훈
,
김장겸
한국정밀공학회 학술발표대회 논문집
2014
.05
영상기반 자동검사시스템에서 Run Length Coding을 이용한 한도 결함 검출 전처리 기법
주영복
,
권오영
,
허경무
전자공학회논문지-SC
2012
.01
샤프트 표면결함 검출을 위한 비전검사 시스템 개발
정성훈
,
류성희
,
정대현
외 1명
한국자동차공학회 추계학술대회 및 전시회
2012
.11
자동차 대쉬보드 커팅품질 결함방지를 위한 비전검사 기술개발
허성필
,
이동후
,
안도현
한국통신학회 학술대회논문집
2020
.02
최근 본 자료
댓글(0)
0