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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 2013.2
- 수록면
- 405 - 413 (9page)
이용수
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본 논문에서는 program-verify-read 모드를 갖는 고신뢰성 24bit differential paired eFuse OTP 메모리를 설계하였다. 제안된 program-verify-read 모드에서는 프로그램된 eFuse 저항의 변동을 고려하여 가변 풀-업 부하(variable pull-up load)를 갖는 센싱 마진 테스트 기능을 수행하는 동시에 프로그램 데이터와 read 데이터를 비교하여 PFb(pass fail bar) 핀으로 비교 결과를 출력한다. 그리고 모의실험 결과 program-verify-read 모드에서 24-비트 differential paired eFuse OTP와 24-비트 듀얼 포트 eFuse OTP IP의 센싱 저항은 각각 4㏀과 50㏀으로 differential paired eFuse OTP의 센싱 저항이 작게 나왔다.
목차
요약
ABSTRACT
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 회로설계
Ⅲ. 모의실험 및 레이아웃 결과
Ⅳ. 결론
참고문헌
참고문헌 (8)
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1. [학술지(정기간행물)] - Sarvesh H Kulkarni / 2010 / A 4kb metal-fuse OTP-ROM macro featuring a 2V programmable 1.37㎛2 1T1R bit cell in 32 ㎚ high-k metal-gate CMOS / IEEE Solid-State Circuits 45 (4) : 863 ~ 868
2. [학술대회논문] - Safran J / 2007 / A compact eFuse programmable array memory for SOI CMOS / Symposium on VLSI Circuits : 72 ~ 73
3. [학술대회논문] - Robson N / 2007 / Electrically programmable fuse (eFuse): From memory redundancy to autonomic chip / Proceedings of Custom Integrated Circuits Conference : 799 ~ 804
4. [학술대회논문] - Alavi M / 1997 / A PROM element based on salicide agglomeration of poly fuses in a CMOS logic process / IEEE International Electron Devices Meeting : 855 ~ 858
5. [학술지(정기간행물)] - Jeong-Ho Kim / 2011 / Design of 1-Kb eFuse OTP Memory IP with Reliability Considered / JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE 11 (2) : 88 ~ 94
2. [학술대회논문] - Safran J / 2007 / A compact eFuse programmable array memory for SOI CMOS / Symposium on VLSI Circuits : 72 ~ 73
3. [학술대회논문] - Robson N / 2007 / Electrically programmable fuse (eFuse): From memory redundancy to autonomic chip / Proceedings of Custom Integrated Circuits Conference : 799 ~ 804
4. [학술대회논문] - Alavi M / 1997 / A PROM element based on salicide agglomeration of poly fuses in a CMOS logic process / IEEE International Electron Devices Meeting : 855 ~ 858
5. [학술지(정기간행물)] - Jeong-Ho Kim / 2011 / Design of 1-Kb eFuse OTP Memory IP with Reliability Considered / JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE 11 (2) : 88 ~ 94
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