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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
김근수 (호서대학교)
저널정보
대한용접·접합학회 대한용접·접합학회지 大韓熔接·接合學會誌 第31卷 第3號
발행연도
2013.6
수록면
17 - 21 (5page)

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Sn whiskers are one of the serious causes of the failure of electronics. Sn whiskers grow spontaneously from Sn-based, lead-free finished surfaces, even at room temperature. A primary factor of these Sn whiskers growth is compressive stress, which enhances the diffusion of Sn or other elements. The sources of compressive stress are the growth of non-uniform large intermetallic compounds along the interface between the Sn grain boundary and Cu substrate. Recent studies revealed the methods for reducing Sn whisker growth. This paper gives an overview about recent researches for mitigation methods of Sn whisker growth during nearly room temperature storage.

목차

Abstract
1. 서론
2. 상온 휘스커의 발생과 성장
3. 표면코팅 법
4. Sn 도금의 구조 제어
5. 도금/전극 계면제어
6. 결론
참고문헌

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