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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
이창영 (부경대학교) 정석문 (해군사관학교) 김남호 (부경대학교)
저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지 전자공학회논문지 제50권 5호
발행연도
2013.5
수록면
218 - 223 (6page)

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에지를 검출하기 위한 기존의 방법에는 Sobel, Prewitt, LoG(Laplacian of Gaussian) 등이 있으며, 이러한 방법들은 AWGN(additive white Gaussian noise)이 첨가된 영상에서 에지 검출 특성이 다소 미흡하다. 따라서 본 논문에서는 기울기 및 거리 가중치 마스크가 적용된 변형된 계수 마스크를 이용한 에지 검출 알고리즘을 제안하였다. 제안된 알고리즘의 성능을 확인 및 검증하기 위하여, 표준편차 σ=15, 30의 AWGN이 첨가된 여러 표준 영상으로 기존의 방법과 비교 및 시뮬레이션하였으며, 처리된 영상에서 제안한 알고리즘은 에지 검출 특성이 우수하였다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 기존의 에지 검출 방법
Ⅲ. 제안한 알고리즘
Ⅳ. 시뮬레이션 및 결과
Ⅴ. 결론
참고문헌

참고문헌 (11)

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2014-560-002570925