메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색
질문

논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
김희준 (한양대학교) 정경훈 (한양대학교)
저널정보
대한전기학회 대한전기학회 학술대회 논문집 2012 대한전기학회 전기기기 및 에너지변환시스템부문회 추계학술대회 논문집
발행연도
2012.11
수록면
236 - 239 (4page)

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

초록· 키워드

오류제보하기
본 논문에서는 GaN 소자의 AC특성 측정회로 연구에 대해 논하였다. GaN 소자는 공정상 Normallyon과 Normally-off 두 가지 소자로 구분된다. Normally-on 소자는 Negative V<SUB>gs(th)</SUB>를 가지며 Normally-off 소자는 positive V<SUB>gs(th)</SUB>를 가진다. 따라서 두 종류의 소자를 스위칭 하기 위한 Gate 구동 회로는 서로 다르게 구성되어야 한다. 본 논문에서는 Normally-off 소자를 위한 드라이브 IC 로 두 종류의 소자가 모두 스위칭이 되는 것을 확인하였다. 또한 일반적인 스위칭 테스트 회로에서는 <SUB>RDS(on) </SUB>측정 시에 부하저항의 용량에 따른 문제가 발생하기 때문에 저항이 없는 스위칭 테스트 회로를 고안하고 제작함으로써 고전압에서도 저항 용량의 문제없이 R<SUB>DS(on)</SUB>측정이 가능하다는 것을 입증하였다.

목차

Abstract
1. 서론
2. 본론
3. 결론
참고문헌

참고문헌 (0)

참고문헌 신청

이 논문의 저자 정보

이 논문과 함께 이용한 논문

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2014-560-001046637