본 논문에서는 GaN 소자의 AC특성 측정회로 연구에 대해 논하였다. GaN 소자는 공정상 Normallyon과 Normally-off 두 가지 소자로 구분된다. Normally-on 소자는 Negative V<SUB>gs(th)</SUB>를 가지며 Normally-off 소자는 positive V<SUB>gs(th)</SUB>를 가진다. 따라서 두 종류의 소자를 스위칭 하기 위한 Gate 구동 회로는 서로 다르게 구성되어야 한다. 본 논문에서는 Normally-off 소자를 위한 드라이브 IC 로 두 종류의 소자가 모두 스위칭이 되는 것을 확인하였다. 또한 일반적인 스위칭 테스트 회로에서는 <SUB>RDS(on) </SUB>측정 시에 부하저항의 용량에 따른 문제가 발생하기 때문에 저항이 없는 스위칭 테스트 회로를 고안하고 제작함으로써 고전압에서도 저항 용량의 문제없이 R<SUB>DS(on)</SUB>측정이 가능하다는 것을 입증하였다.