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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
오승찬 (충남대학교) 이남호 (한국원자력연구원) 이흥호 (충남대학교)
저널정보
대한전기학회 전기학회논문지 전기학회논문지 제61권 제10호
발행연도
2012.10
수록면
1,448 - 1,453 (6page)

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이 논문의 연구 히스토리 (2)

2012

즉발감마선에 의한 상용전자소자의 피해현상분석 연구
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초록· 키워드

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In this study, we carried out transient radiation test for identify failure situation by a transient radiation effect on operational amplifier devices. This experiments were carried out using a 60 MeV electron beam pulse of the LINAC(Linear Accelerator) facility in the Pohang Accelerator Laboratory. In this test, we has found that a serious failure as a burn-out effect due to overcurrent on the partial electronic devices.
#Pulsed gamma-ray #Transient radiation effect #Total ionizing dose effect

목차

Abstract
1. 서론
2. 즉발감마선 피해평가 시험구성
3. 즉발감마선 실측시험결과 및 분석
4. 결론
참고문헌

참고문헌 (5)

참고문헌 신청
1. [보고서] - Lewis Cohn / 1995 / Transient Radiation Effects on Electronics (TREE) Handbook google schola 2. [기타자료] - MIL / 2006 / MIL-STD-883G 1020.1, In Dose rate induced latchup test procedure google schola 3. [기타자료] - MIL / 2006 / MIL-STD-883G 1021.2, In Dose rate upset testing of ditital microcircuits google schola 4. [학술지(정기간행물)] - S. C. Oh / 2011 / Investigation of Transient Radiation Effects in CMOS IC_S Using the TCAD Simulation and Experiment / Journal of the Korean Physical Society 59 (23) : 1451 ~ 1454 google schola 5. [단행본] - George C. Messenger / 1992 / The Effects of Radiation On Electronic Systems / VAN NOSTRAND REINHOLD COMPANY google schola

이 논문의 저자 정보

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