반도체 공정에서의 Wafer Map Image 분석 방법론

유영지 ,  안대웅 ,  박승환 외 1명

대한산업공학회지

2015 .06

자기조직화 지도를 이용한 반도체 패키지 내부결함의 패턴분류 알고리즘 개발

김재열 ,  윤성운 ,  김훈조 외 3명

한국생산제조학회지

2003 .04

Wafer Defect 밀도 기반 반도체 DIE 품질 예측 기법

김진탁 ,  백준걸

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2019 .11

합성곱 신경망을 이용한 웨이퍼 맵 기반 불량 탐지

박재선 ,  김준홍 ,  김형석 외 2명

대한산업공학회지

2018 .08

반도체 Wafer 가공공정에서의 생산일정계획에 관한 연구

김영대 ,  이동호 ,  김정욱 외 1명

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

1995 .04

딥러닝을 이용한 웨이퍼 빈 맵 신규 패턴 탐지

백승호 ,  김성범

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2019 .11

반도체 Wafer Fabrication 공정에서의 생산성 향상에 관한 연구

임주택 ,  옥동기 ,  김인호 외 1명

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

1998 .04

반도체에 관하여

염곡훈

전자공학회지

1965 .07

반도체 Wafer Fabrication공정의 생산일정계획시스템

이군희 ,  홍윤신 ,  김수영

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

1994 .10

새로운 규칙 생성 알고리즘

김상귀 ,  윤충화

한국정보과학회 학술발표논문집

2005 .11

반도체 공정에서의 이상치 탐지 기법을 이용한 불량 웨이퍼 탐지

김동일 ,  강필성 ,  조성준 외 2명

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2009 .05

반도체 Wafer Fabrication 공정에서의 생산일정계획

이군희 ,  홍유신 ,  김수영

대한산업공학회지

1995 .09

자기조직화 지도를 이용한 반도체 패키지 내부결함의 패턴분류 알고리즘 개발

김재열 ,  윤성운 ,  김훈조 외 3명

한국생산제조학회 학술발표대회 논문집

2002 .10

시스템 관리 기능을 위한 결함분석기 개발

윤재식 ,  고정국 ,  김길용

한국정보과학회 학술발표논문집

1998 .10

분산 탐지의 결함 허용성에 관한 연구

변경근 ,  심영철

한국정보과학회 학술발표논문집

1996 .10

Advanced Wafer-to-Wafer and Chip-to-Wafer Bonding for 3D Integration

Bioh Kim ,  Paul Kettne ,  Stefan Pa 외 5명

한국표면공학회 학술발표회 초록집

2008 .06

반도체 웨이퍼 자동 결함 검출 및 분석 시스템 구현

남상진 ,  한광수

한국정보과학회 학술발표논문집

2001 .10

Automated Wafer Separation from the Stacked Array of Solar Cell Silicon Wafers Using Continuous Water Jet

Kim ,  Kyoung-Jin ,  Kim 외 3명

반도체디스플레이기술학회지

2010 .01

반도체 Wafer Fab의 생산성 향상을 위한 통합운영전략

박민정 ,  구평회

대한산업공학회 춘계공동학술대회 논문집

2015 .04

반도체 기술

유영욱

정보화사회

1989 .01