A Two-Plan Sampling System for Life Testing Under Weibull Distribution

Muhammad Aslam; Saminathan Balamurali; Chi-Hyuck Jun; Munir Ahmad

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자료유형: 학술저널

저자정보: Muhammad Aslam (Forman Christian College University) Saminathan Balamurali (Kalasalingam University) Chi-Hyuck Jun (Pohang University of Science and Technology) Munir Ahmad (National College of Business Administration & Economics)

저널정보: 대한산업공학회 Industrial Engineering & Management Systems Industrial Engineering & Management Systems 제9권 제1호

발행연도: 2010.3

수록면: 54 - 59 (6page)

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A two-plan sampling system is proposed for a failure-censored life testing when the lifetime follows a Weibull distribution with known shape parameter. The proposed sampling system is based on a switching rule, for switching between the tightened and the normal inspection levels when lots are submitted for inspection in the order of production or in some other systematic way. The design parameters of the proposed sampling system are determined by the two-point approach considering the producer"s risks and the consumer"s at the specified acceptable reliability level and the lot tolerance reliability level, respectively. It has been observed that the proposed system requires only a single failure for the observation.

#Acceptable Reliability Level #Consumer's Risk #Lot Tolerance Reliability Level #OC Curve #Producer's Risk #Sampling by Variables

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