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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
김인철 (연세대학교) 장재원 (연세대학교) 강성호 (연세대학교)
저널정보
대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 電子工學會論文誌 第49卷 SD編 第5號
발행연도
2012.5
수록면
30 - 36 (7page)

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본 논문은 천이 검출기를 이용하여 아날로그-디지털 변환기(ADC)의 정적 파라미터를 테스트 하는 내장 자체 테스트 방법을 제안한다. 제안하는 방법은 ADC의 정적 테스트에서 가장 널리 사용되는 히스토그램 방법을 대체할 수 있다. 입력되는 테스트 신호는 상향 램프 신호를 사용하며 오프셋, 게인, INL(Integral Non-Linearity), DNL(Differential Non-Linearity)과 같은 정적 파라미터를 테스트 할 수 있다. 제안하는 방법은 실제 테스트 환경에서 랜덤 노이즈에 의해 발생할 수 있는 천이 구간 문제를 해결할 수 있으며, 테스트 스펙으로 주어지는 오차 허용 범위의 다양한 경우에 대해서 효율적으로 테스트를 수행할 수 있다. 실험 결과는 제안하는 방법이 정적 테스트를 올바르게 수행하는 것과, 기존 방법에 비해 하드웨어 오버헤드가 줄어드는 것을 보여준다.
#아날로그-디지털 변환기(ADC) #내장 자체 테스트 #정적 파라미터 #천이 #오차 허용 범위

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 제안하는 내장 자체 테스트 방법
Ⅲ. 실험
Ⅳ. 결론
참고문헌

참고문헌 (10)

참고문헌 신청
1. [학술대회논문] - H. Jiang / 2004 / Testing High Resolution ADCs with Resolution/Accuracy Deterministic Dynamic Element Matched DACs / Proc. of ITC : 1379 ~ 1388 google schola 2. [학술지(정기간행물)] - 김기철 / 2010 / 내장된 자체 테스트를 위한 저전력 테스트 패턴 생성기 구조 / 전자공학회논문지 - SD 47 (8) : 29 ~ 35 dbpia 3. [학술대회논문] - M. Renovell / 2000 / Hardware Resource Minimization for a Histogram-based BIST / Proc. of VTS : 247 ~ 252 google schola 4. [학술대회논문] - Y. Wang / 2005 / Optimal Schemes for ADC BIST Based on Histogram / Proc. of ATS : 52 ~ 57 google schola 5. [학술대회논문] - H. Xing / 2007 / A Fully Digital-Compatible BIST Strategy for ADC Linearity Testing / Proc. of ITC : 1 ~ 10 google schola

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