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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2009.11
- 수록면
- 198 - 201 (4page)
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On-chip power and substrate noise measurements were performed on shift registers in a 90-nm CMOS technology, with operating frequencies ranging from 100 MHz up to 1.2 GHz. Combined on-chip digitization and off-chip timing generation achieves the effective measurement bandwidth as high as 1.3 GHz. It was experimentally observed that dynamic components of power noise decrease for the higher operating frequencies.
목차
Abstract
I. INTRODUCTION
II. ON-CHIP POWER NOISE MEASUREMENTS
III. EXPERIMENTAL RESULTS
IV. SUMMARY
ACKNOWLEDGMENTS
REFERENCES
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