메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색
질문

논문 기본 정보

자료유형
학술대회자료
저자정보
Ning Zhu (Nanyang Technological University) Wang Ling Goh (Nanyang Technological University) Kiat Seng Yeo (Nanyang Technological University)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 ISOCC ISOCC 2011 Conference
발행연도
2011.11
수록면
393 - 396 (4page)

이용수

표지
📌
연구주제
📖
연구배경
🔬
연구방법
🏆
연구결과
AI에게 요청하기
추천
검색
질문

이 논문의 연구 히스토리 (2)

초록· 키워드

오류제보하기
In modern VLSI technology, the occurrence of all kinds of errors has become inevitable. The tradeoff between power consumption and speed performance has become a very important concern in circuit design process. It is especially critical when dealing with large data set, whereby the system is degraded in terms of power and speed. By adopting an emerging concept in VLSI design and test, i.e. Error-Tolerance (ET) whereby the correctness is compromised, a large reduction in in power consumption and improvement in speed can be achieved. In this paper, we present a novel low-power and highspeed Probabilistic Adder for Error-Tolerant Applications (ETA) Type III design called ETAIII. The proposed ETAIII is an enhancement of our earlier design, ETAI [1].

목차

Abstract
I. INTRODUCTION
II. ERROR-TOLERANT ADDER
III. APPLICATION
IV. SIMULATION RESULTS
V. CONCLUSION
ACKNOWLEDGMENT
REFERENCES

참고문헌 (0)

참고문헌 신청

이 논문의 저자 정보

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0

UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2013-569-001475219