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학술대회자료
저자정보
Jinbo Wan (University of Twente) Hans G. Kerkhoff (University of Twente)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 ISOCC ISOCC 2011 Conference
발행연도
2011.11
수록면
294 - 297 (4page)

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SoCs used in safety-critical applications need to be dependable. However in the deep-submicron region, different kinds of aging effects like negative bias temperature instability (NBTI) make the SoCs, especially the analog/mixed-signal parts, undependable. In this paper, a dependability-improved Opamp is designed based on gain programmability and digital gain monitoring. To accomplish an extra gain range for tuning in 65nm technology, a new voltage-gain boosting method is proposed to provide a maximum 92dB gain in a single amplification stage. The NBTI influence is investigated using Cadence RelXpert and dependability properties for the Opamp are provided.
#gain boosting #Opamp #dependability #NBTI.

목차

Abstract
I. INTRODUCTION
II. NEW GAIN BOOSTING TECHNIQUE
III. PROGRAMMABLE GAIN BOOSTING OPAMP WITH EMBEDDED DIGITAL GAIN MONITOR
IV. DEPENDABILITY SIMULATIONS
V. CONCLUSIONS
REFERENCES

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