Detecting the Delay Faults of I/O Block using the Low-Speed Tester

Hyun Chul Kang; Joon Young Park; Sung Je Hong; Woo Seop Kim; Sung Bum Cho; Byung Se So

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저자정보: Hyun Chul Kang (포항공과대학교) Joon Young Park (포항공과대학교) Sung Je Hong (포항공과대학교) Woo Seop Kim (삼성전자) Sung Bum Cho (삼성전자) Byung Se So (삼성전자)

저널정보: 대한전자공학회 ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications ITC-CSCC : 2005 Proceedings volume 1

발행연도: 2005.7

수록면: 195 - 196 (2page)

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2005

Detecting the Delay Faults of I/O Block using the Low-Speed Tester

Hyun Chul Kang , Joon Young Pa , k 외 4명 ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications 2005.07 학술대회자료

Detecting the Delay Faults of I/O Block using the Low- Speed Tester

Hyun Chul Kang , Joon Young Pa , k 외 4명 대한전자공학회 학술대회 2005.05 학술대회자료

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